Bias Temperature Instability for Devices and Circuits (Registro nro. 27522)

Detalles MARC
000 -CABECERA
campo de control de longitud fija	02958Cam#a22004815i#4500
001 - NÚMERO DE CONTROL
campo de control	INGC-EBK-000094
003 - IDENTIFICADOR DEL NÚMERO DE CONTROL
campo de control	AR-LpUFI
005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN
campo de control	20220927105628.0
007 - CAMPO FIJO DE DESCRIPCIÓN FÍSICA--INFORMACIÓN GENERAL
campo de control de longitud fija	cr nn 008mamaa
008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL
campo de control de longitud fija	131022s2014 xxu\| s \|\|\|\| 0\|eng d
020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO
Número Internacional Estándar del Libro	9781461479093
024 7# - IDENTIFICADOR DE OTROS ESTÁNDARES
Número estándar o código	10.1007/978-1-4614-7909-3
Fuente del número o código	doi
050 #4 - SIGNATURA TOPOGRÁFICA DE LA BIBLIOTECA DEL CONGRESO
Número de clasificación	TK7888.4
072 #7 - CÓDIGO DE CATEGORÍA DE MATERIA
Código de categoría de materia	TJFC
Fuente	bicssc
072 #7 - CÓDIGO DE CATEGORÍA DE MATERIA
Código de categoría de materia	TEC008010
Fuente	bisacsh
245 10 - MENCIÓN DE TÍTULO
Título	Bias Temperature Instability for Devices and Circuits
Medio	[libro electrónico] /
Mención de responsabilidad, etc.	edited by Tibor Grasser.
260 #1 - PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, ETC.
Lugar de publicación, distribución, etc.	New York, NY :
Nombre del editor, distribuidor, etc.	Springer New York :
--	Imprint: Springer,
Fecha de publicación, distribución, etc.	2014.
300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA
Extensión	xi, 810 p. :
Otras características físicas	il.
336 ## - TIPO DE CONTENIDO
Término de tipo de contenido	text
Código de tipo de contenido	txt
Fuente	rdacontent
337 ## - TIPO DE MEDIO
Nombre/término del tipo de medio	computer
Código del tipo de medio	c
Fuente	rdamedia
338 ## - TIPO DE SOPORTE
Nombre/término del tipo de soporte	online resource
Código del tipo de soporte	cr
Fuente	rdacarrier
347 ## - CARACTERÍSTICAS DEL ARCHIVO DIGITAL
Tipo de archivo	text file
Formato de codificación	PDF
Fuente	rda
505 0# - NOTA DE CONTENIDO CON FORMATO
Nota de contenido con formato	Introduction -- Characterization, Experimental Challenges -- Advanced Characterization -- Characterization of Nanoscale Devices -- Statistical Properties/Variability -- Theoretical Understanding -- Possible Defects: Experimental -- Possible Defects: First Principles -- Modeling -- Technological Impact -- Silicon dioxides/SiON -- High-k oxides -- Alternative technologies -- Circuits.
520 ## - SUMARIO, ETC.
Sumario, etc.	This book provides a single-source reference to one of the more challenging reliability issues plaguing modern semiconductor technologies, negative bias temperature instability.Â Readers will benefit from state-of-the art coverage of research in topics such as time dependent defect spectroscopy, anomalous defect behavior, stochastic modeling with additional metastable states, multiphonon theory, compact modeling with RC ladders and implications on device reliability and lifetime. Â Â·Â Â Â Â Â Â Â Â Enables readers to understand and model negative bias temperature instability, with an emphasis on dynamics; Â·Â Â Â Â Â Â Â Â Includes coverage of DC vs. AC stress, duty factor dependence and bias dependence; Â·Â Â Â Â Â Â Â Â Explains time dependent defect spectroscopy, as a measurement method that operates on nanoscale MOSFETs; Â·Â Â Â Â Â Â Â Â Introduces new defect model for metastable defect states, nonradiative multiphonon theory and stochastic behavior.
650 #0 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA
Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada	Engineering.
9 (RLIN)	259622
650 #0 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA
Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada	Semiconductors.
9 (RLIN)	259967
650 #0 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA
Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada	Quality control.
9 (RLIN)	259696
650 #0 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA
Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada	Reliability.
9 (RLIN)	259697
650 #0 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA
Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada	Industrial safety.
9 (RLIN)	259698
650 #0 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA
Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada	Electronics.
9 (RLIN)	259648
650 #0 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA
Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada	Microelectronics.
9 (RLIN)	259649
650 #0 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA
Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada	Electronic circuits.
9 (RLIN)	259798
650 24 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA
Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada	Circuits and Systems.
9 (RLIN)	259651
650 24 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA
Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada	Instrumentation.
9 (RLIN)	259652
650 24 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA
Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada	Risk.
9 (RLIN)	259691
700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA
Nombre de persona	Grasser, Tibor,
Término indicativo de función/relación	ed.
9 (RLIN)	260068
776 08 - ENTRADA/ENLACE A UN FORMATO FÍSICO ADICIONAL
Información de relación/Frase instructiva de referencia	Printed edition:
Número Internacional Estándar del Libro	9781461479086
856 40 - LOCALIZACIÓN Y ACCESO ELECTRÓNICOS
Identificador Uniforme del Recurso	<a href="http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-7909-3">http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-7909-3</a>
912 ## -
--	ZDB-2-ENG
929 ## -
--	COM
942 ## - ELEMENTOS DE PUNTO DE ACCESO ADICIONAL (KOHA)
Tipo de ítem Koha	Libro electrónico

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