Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits (Registro nro. 27599)

Detalles MARC
000 -CABECERA
campo de control de longitud fija	03305Cam#a22004455i#4500
001 - NÚMERO DE CONTROL
campo de control	INGC-EBK-000171
003 - IDENTIFICADOR DEL NÚMERO DE CONTROL
campo de control	AR-LpUFI
005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN
campo de control	20220927105702.0
007 - CAMPO FIJO DE DESCRIPCIÓN FÍSICA--INFORMACIÓN GENERAL
campo de control de longitud fija	cr nn 008mamaa
008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL
campo de control de longitud fija	130611s2014 gw \| s \|\|\|\| 0\|eng d
020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO
Número Internacional Estándar del Libro	9783319005331
024 7# - IDENTIFICADOR DE OTROS ESTÁNDARES
Número estándar o código	10.1007/978-3-319-00533-1
Fuente del número o código	doi
050 #4 - SIGNATURA TOPOGRÁFICA DE LA BIBLIOTECA DEL CONGRESO
Número de clasificación	TK7888.4
072 #7 - CÓDIGO DE CATEGORÍA DE MATERIA
Código de categoría de materia	TJFC
Fuente	bicssc
072 #7 - CÓDIGO DE CATEGORÍA DE MATERIA
Código de categoría de materia	TEC008010
Fuente	bisacsh
100 1# - ENTRADA PRINCIPAL--NOMBRE DE PERSONA
Nombre de persona	Liu, Xiao.
9 (RLIN)	260331
245 10 - MENCIÓN DE TÍTULO
Título	Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits
Medio	[libro electrónico] /
Mención de responsabilidad, etc.	by Xiao Liu, Qiang Xu.
260 #1 - PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, ETC.
Lugar de publicación, distribución, etc.	Heidelberg :
Nombre del editor, distribuidor, etc.	Springer International Publishing :
--	Imprint: Springer,
Fecha de publicación, distribución, etc.	2014.
300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA
Extensión	xv, 108 p. :
Otras características físicas	il.
336 ## - TIPO DE CONTENIDO
Término de tipo de contenido	text
Código de tipo de contenido	txt
Fuente	rdacontent
337 ## - TIPO DE MEDIO
Nombre/término del tipo de medio	computer
Código del tipo de medio	c
Fuente	rdamedia
338 ## - TIPO DE SOPORTE
Nombre/término del tipo de soporte	online resource
Código del tipo de soporte	cr
Fuente	rdacarrier
347 ## - CARACTERÍSTICAS DEL ARCHIVO DIGITAL
Tipo de archivo	text file
Formato de codificación	PDF
Fuente	rda
490 1# - MENCIÓN DE SERIE
Mención de serie	Lecture Notes in Electrical Engineering,
Número Internacional Normalizado para Publicaciones Seriadas	1876-1100 ;
Designación de volumen o secuencia	252
505 0# - NOTA DE CONTENIDO CON FORMATO
Nota de contenido con formato	Introduction -- State of the Art on Post-Silicon Validation -- Signal Selection for Visibility Enhancement -- Multiplexed Tracing for Design Error -- Tracing for Electrical Error -- Reusing Test Access Mechanisms -- Interconnection Fabric for Flexible Tracing -- Interconnection Fabric for Systematic Tracing -- Conclusion.
520 ## - SUMARIO, ETC.
Sumario, etc.	This book first provides a comprehensive coverage of state-of-the-art validation solutions based on real-time signal tracing to guarantee the correctness of VLSI circuits.Â The authors discuss several key challenges in post-silicon validation and provide automated solutions that are systematic and cost-effective.Â A series of automatic tracing solutions and innovative design for debug (DfD) techniques are described, including techniques for trace signal selection for enhancing visibility of functional errors, a multiplexed signal tracing strategy for improving functional error detection, a tracing solution for debugging electrical errors, an interconnection fabric for increasing data bandwidth and supporting multi-core debug, an interconnection fabric design and optimization technique to increase transfer flexibility and a DfD design and associated tracing solution for improving debug efficiency and expanding tracing window. The solutions presented in this book improve the validation quality of VLSI circuits, and ultimately enable the design and fabrication of reliable electronic devices. Â·Â Â Â Â Â Â Â Â Provides a comprehensive summary of state-of-the-art on post-silicon validation; Â·Â Â Â Â Â Â Â Â Offers automated solutions that are systematic and cost-effective for post-silicon validation, from trace signal selection to trace data transfer; Â·Â Â Â Â Â Â Â Â Illustrate key concepts and algorithms with real examples. Â Â Â Â .
650 #0 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA
Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada	Engineering.
9 (RLIN)	259622
650 #0 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA
Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada	Microprocessors.
9 (RLIN)	259640
650 #0 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA
Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada	Semiconductors.
9 (RLIN)	259967
650 #0 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA
Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada	Electronic circuits.
9 (RLIN)	259798
650 24 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA
Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada	Circuits and Systems.
9 (RLIN)	259651
650 24 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA
Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada	Processor Architectures.
9 (RLIN)	259645
700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA
Nombre de persona	Xu, Qiang.
9 (RLIN)	260332
776 08 - ENTRADA/ENLACE A UN FORMATO FÍSICO ADICIONAL
Información de relación/Frase instructiva de referencia	Printed edition:
Número Internacional Estándar del Libro	9783319005324
856 40 - LOCALIZACIÓN Y ACCESO ELECTRÓNICOS
Identificador Uniforme del Recurso	<a href="http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-00533-1">http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-00533-1</a>
912 ## -
--	ZDB-2-ENG
929 ## -
--	COM
942 ## - ELEMENTOS DE PUNTO DE ACCESO ADICIONAL (KOHA)
Tipo de ítem Koha	Libro electrónico

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